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產(chǎn)品名稱： Apreo掃描電鏡產(chǎn)品型號(hào)： TFE000050產(chǎn)品時(shí)間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific ™ Apreo SEM 地適用性，可以在短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供成像質(zhì)量。是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，其創(chuàng)新的末級(jí)透鏡設(shè)計(jì)，絲毫不會(huì)降低對(duì)磁性樣品的分辨能力。
產(chǎn)品介紹
靜電式末級(jí)透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠?qū)崿F(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號(hào)的同時(shí)探測(cè)和高分辨率，而 Apreo S 則結(jié)合靜電、浸沒(méi)式磁場(chǎng)的復(fù)合透鏡以進(jìn)一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過(guò)將浸沒(méi)式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實(shí)現(xiàn)*的信號(hào)過(guò)濾功能。擁有透鏡內(nèi)背散射探測(cè)器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時(shí)間內(nèi)獲得大量的采集信號(hào)。與其他背散射探測(cè)器不同，這種快速的探測(cè)器在導(dǎo)航時(shí)、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時(shí)，探測(cè)器的*性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S復(fù)合末級(jí)透鏡通過(guò)能量過(guò)濾實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的材料襯度以及絕緣樣品的無(wú)電荷成像，進(jìn)一步提高了 T1 BSE 探測(cè)器的使用價(jià)值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來(lái)補(bǔ)充其探測(cè)能力，例如定向背散射探測(cè)器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測(cè)器(GAD)。所有這些探測(cè)器都擁有的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇價(jià)值的樣品信息。
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 全面實(shí)現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。
• 的背散射電子探測(cè)始終可保證良好的材料襯度，即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV速率成像是也不例外。
• 無(wú)比靈活的探測(cè)器 可將各個(gè)探測(cè)器分割提供的信息相結(jié)合，讓用戶能夠獲得至關(guān)重要的對(duì)比或信號(hào)強(qiáng)度。
• 各種各樣的荷電緩解策略 ，包括樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
• 分析平臺(tái)提供高電子束電流，而且束斑很小。倉(cāng)室支持三個(gè)EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
• 樣品處理和導(dǎo)航極容易，具有多用途樣品支架和Nav-Cam+。
• 通過(guò)高級(jí)用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專(zhuān)家級(jí)結(jié)果。
參數(shù)
電子束
• 電子束電流范圍: 1 pA–400 nA
• 加速電壓: 200 V–30 kV
• 著陸能量范圍: 20 eV–30 keV
• 大水平視場(chǎng)寬:10 mm工作距離下為3.0 mm（對(duì)應(yīng)于小放大倍率 x29）
• 10mm分析工作距離 1kV 時(shí)電子束分辨率: 1nm
倉(cāng)室
• 內(nèi)寬: 340 mm
• 分析工作距離: 10 mm
• 12個(gè)端口
• EDS 出射角度為35°
• 可同時(shí)安裝三個(gè)EDS 探測(cè)器, 兩個(gè)處于180°
• 共面的 EDS/EBSD 與樣品臺(tái)的傾斜軸垂直。
探測(cè)器
Apreo 通過(guò)可用探測(cè)器或探測(cè)器的分割部分的任意組合，多可同時(shí)探 測(cè)四個(gè)信號(hào)：
• Trinity 探測(cè)系統(tǒng) (透鏡內(nèi)和鏡筒內(nèi))
– T1 分割式透鏡內(nèi)低位探測(cè)器
– T2 透鏡內(nèi)高位探測(cè)器
– T3 鏡筒內(nèi)探測(cè)器*
• ETD – Everhart-Thornley SE 探測(cè)器
• DBS – 可伸縮分割式透鏡下 BSED*
• 低真空 SE 探測(cè)器*
• DBS-GAD – 安裝在透鏡上的氣體分析 BSED
• STEM 3+ – 可伸縮分割式探測(cè)器（BF、DF、HADF、HAADF)*
• IR-CCD
• Nav-Cam+ ™ –安裝在倉(cāng)室內(nèi)的樣品導(dǎo)航攝像頭
真空系統(tǒng)
• *無(wú)油的真空系統(tǒng)
• 1 × 220 l/s TMP
• 1 × PVP-渦旋泵
• 2 × IGP
• 倉(cāng)室真空（高真空）< 6.3 × 10-6 mbar（72 小時(shí)抽氣后）
• 抽氣時(shí)間：≤ 3.5 分鐘
• 可選的低真空模式
• 倉(cāng)室壓力為 10 到 500 Pa
| 產(chǎn)品料號(hào) | 產(chǎn)品貨號(hào) | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
| TFE000050 | TFE000050 | Apreo掃描電鏡 | Apreo |
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